Fluoresensi sinar-X: Perbedaan antara revisi

Konten dihapus Konten ditambahkan

Sebaris

Revisi per 29 Desember 2018 21.16

Floresensi sinar X (x-ray flourescence, XRF) adalah floresensi (emisi karakteristik "sekunder") sinar-X dari bahan yang telah tereksitasi karena dibombardir dengan sinar X berenergi tinggi atau sinar gamma. Fenomena ini banyak dimanfaatkan untuk analisis unsur dan kimia analisis, terutama dalam menneliti logam, kaca, keramik dan bahan bangunan, dan dalam geokimia, ilmu forensik, arkeologi dan benda-benda seni^[1] seperti lukisan^[2] dan mural.

Catatan

^ De Viguerie L, Sole VA, Walter P, Multilayers quantitative X-ray fluorescence analysis applied to easel paintings, Anal Bioanal Chem. 2009 Dec; 395(7): 2015-20. DOI:10.1007/s00216-009-2997-0
^ X-Ray Fluorescence at ColourLex

[1] De Viguerie L, Sole VA, Walter P, Multilayers quantitative X-ray fluorescence analysis applied to easel paintings, Anal Bioanal Chem. 2009 Dec; 395(7): 2015-20. DOI:10.1007/s00216-009-2997-0

[2] X-Ray Fluorescence at ColourLex

[1]

[2]