Fluoresensi sinar-X

Dari Wikipedia bahasa Indonesia, ensiklopedia bebas
Loncat ke navigasi Loncat ke pencarian
Skema floresensi sinar-X

Floresensi sinar X (x-ray flourescence, XRF) adalah fluoresensi (emisi karakteristik sekunder) sinar-X dari bahan yang tereksitasi karena dibombardir dengan sinar X berenergi tinggi atau sinar gamma. Fenomena ini banyak dimanfaatkan untuk analisis unsur dan kimia analisis, terutama dalam menneliti logam, kaca, keramik dan bahan bangunan, dan dalam geokimia, ilmu forensik, arkeologi dan benda-benda seni[1] seperti lukisan[2] dan mural.

Bombardir dengan sinar-X berenergi tinggi dan sinar gamma mengeksitasi elektron-elektron dari unsur yang diselidiki. Ketika elektron-elektron ini kembali ke keadaan dasar, sinar X-ray akan dipancarkan dengan energi tertentu.[3] Besar energi ini berbeda-beda tergantung unsur, sehingga dengan mendeteksi pancaran sinar X ini, peneliti dapat mengetahui unsur dalam suatu bahan.[4]

Catatan[sunting | sunting sumber]

  1. ^ De Viguerie L, Sole VA, Walter P, Multilayers quantitative X-ray fluorescence analysis applied to easel paintings, Anal Bioanal Chem. 2009 Dec; 395(7): 2015-20. DOI:10.1007/s00216-009-2997-0
  2. ^ X-Ray Fluorescence at ColourLex
  3. ^ Ronald Gautreau; William Savin (17 August 1999). Schaum's Outline of Modern Physics. Erlangga. hlm. 135. ISBN 978-979-781-824-1. 
  4. ^ Karl Wirth, Macalester College dan Andy Barth. X-Ray Fluorescence (XRF). Carleton College.